China Keluarkan Piawaian Antarabangsa Bagi Kes Penggunaan Pembuatan Pintar

(CRI)Jumaat 24 Julai 2026

Suruhanjaya Elektroteknikal Antarabangsa (IEC) menerusi Jawatankuasa Sistem Pembuatan Pintar (IEC/SyC SM) baru-baru ini menerbitkan piawaian antarabangsa "Templat Kes Penggunaan untuk Pembuatan Pintar".

Piawaian ini diketuai oleh pakar dari China sebagai pengurus projek dan dibangunkan bersama pakar dari 11 negara termasuk Amerika Syarikat, Britain, dan Jepun.

Ini sekaligus menjadi satu lagi pencapaian penting China dalam bidang piawaian antarabangsa bagi pembuatan pintar.

Piawaian baharu itu akan menyeragamkan rangka kerja, elemen teras dan keperluan penyusunan kes penggunaan dalam sektor pembuatan pintar.

Video

Berita Berkaitan